J Clin Periodontol： 经颅外侧窦底抬高后的发病率
2018-09-10 MedSci MedSci原创
本研究旨在评估经transtrstal（tSFE）或侧（lSFE）方法抬高上颌窦底部，同时植入种植体后的发病率。
本研究旨在评估经transtrstal（tSFE）或侧（lSFE）方法抬高上颌窦底部，同时植入种植体后的发病率。
上颌后牙≥1个位点剩余骨高（RBH）为3-6 mm的患者入选。 tSFE与异种移植物和胶原基质结合进行。对于lSFE，用异种移植物移植窦，并用膜覆盖窦开窗术。同时植入种植体。通过问卷调查评估术后病程。使用100-mm视觉模拟评分记录疼痛水平（VASpain）。
结果：tSFE和lSFE组分别纳入29名和28名患者。在手术当天，tSFE的VASpain显着高于lSFE，并且第1天到第14天相似.tSFE组的肿胀，瘀伤和鼻涕/出血的发生率显着降低。tSFE组吞咽，持续日常活动，进食，说话，张口和上学/工作的限制不太严重，仅在特定的术后间隔期间出现。
lSFE与手术当天较轻的疼痛相关，并且tSFE术后发病率较低，术后过程更耐受。
原始出处：
Roberto Farina， et al.Morbidity following transcrestal and lateral sinus floor elevation： A randomized trial. Journal of Clinical Periodontology. 2018 September. doi：10.1111/jcpe.12985
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